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TPS-KLT11ウェット分散レーザー粒子サイズアナライザー、0.1-200um Mie Scattering LPSA

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キー属性

その他の属性

原産地
Shanghai, China
保証
1年
カスタマイズされたサポート
Oem, Odm
銘柄
Toposun
測定原理
Mie散乱理論
測定範囲
0.1-200um
測定時間
1分未満
再現性
<1% (標準偏差D50)
精度
<1% (標準偏差D50)
光源
半導体冷凍定温度レーザーライト
検出器
カスタムシリコンフォトダイオード
通信
Usbポート
サンプルプール
ダブルガラス循環サンプルプール
電源
Ac 180v-240v、50hz、20ワット

包装と配送

梱包の詳細
wooden case
販売単位:
単一品目
単一のパッケージサイズ:
80X60X60 cm
単一の総重量:
50.000 kg

リードタイム

数量 (単位)1 - 12 - 2 > 2
推定時間(日)1012交渉による

カスタマイズ

カスタマイズされたロゴ
最低 注文: 20
カスタマイズされたパッケージ
最低 注文: 20

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1 - 1 単位
SAR 24,428.28
>= 2 単位
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