半導体膜構造および周期的ナノ構造用のラボミューラーマトリックス分光エリプソメーター

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Zhengzhou Tainuo Film Materials Co., Ltd.6 yrs

ホバーでズームイン

キー属性

中核事業の明細

保証

1 年

力

電子

その他の属性

カスタマイズされたサポート

Oem

原産地

Henan, China

銘柄

CYKY

モデル番号

CY-SE-L

Ellipsometricパラメータ

Psi: 0-90 ° 、デルタ: -90-270 °

光源の波長範囲

380-1000nm

直径200μm

測定時間

<15秒

測定角度

45-90 °

フォーカス検索機能

0-20mm、自動フォーカス検索

フィルム厚再現性精度

より良い0.005nm

デポラリゼーション精度

± 0.5%

商品名

分光エリプソーター

キーワード

フィルム厚さ分析のためのEllipsometer

数量 (セット)	1 - 1	> 1
推定時間（日）	90	交渉による

サプライヤーからの製品説明

最低発注数量： 1 セット

$80,000.00 - $110,000.00

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