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      実験室用低真空モードの高解像度電界放出走査型電子顕微鏡SEM4000

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      CIQTEK Co., Ltd.1 yrCN

      キー属性

      その他の属性

      原産地
      China
      分類
      その他
      カスタマイズされたサポート
      Obm
      銘柄
      CIQTEK
      モデル番号
      SEM4000
      Usage
      Science Research
      Feature
      Easy Operation
      Function
      Lab Experimental Operation
      Product name
      Scanning Electron Microscope
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